薄膜厚度測(cè)定儀采用機(jī)械接觸式測(cè)量方式，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測(cè)試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度測(cè)量。
薄膜厚度測(cè)定儀的技術(shù)特征：
嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的接觸面積和測(cè)量壓力，同時(shí)支持各種非標(biāo)定制。
測(cè)試過(guò)程中測(cè)量頭自動(dòng)升降，有效避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差。
支持自動(dòng)和手動(dòng)兩種測(cè)量模式，方便用戶自由選擇。
實(shí)時(shí)顯示測(cè)量結(jié)果的平均值以及標(biāo)準(zhǔn)偏差等分析數(shù)據(jù)，方便用戶進(jìn)行判斷。
配置標(biāo)準(zhǔn)量塊用于系統(tǒng)標(biāo)定，保證測(cè)試的精度和數(shù)據(jù)一致性。
系統(tǒng)支持?jǐn)?shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)、打印等許多實(shí)用功能，方便快捷地獲取測(cè)試結(jié)果。
系統(tǒng)由微電腦控制，搭配液晶顯示器、菜單式界面和PVC操作面板，方便用戶進(jìn)行試驗(yàn)操作和數(shù)據(jù)查看。
標(biāo)準(zhǔn)的RS232接口，便于系統(tǒng)與電腦的外部連接和數(shù)據(jù)傳輸。
支持LystemTM實(shí)驗(yàn)室數(shù)據(jù)共享系統(tǒng)，統(tǒng)一管理試驗(yàn)結(jié)果和試驗(yàn)報(bào)告。
應(yīng)用材料：
基礎(chǔ)應(yīng)用：
薄膜、薄片——各種塑料薄膜、薄片、隔膜等的厚度測(cè)定。
紙——各種紙張、紙板、復(fù)合紙板等的厚度測(cè)定。
擴(kuò)展應(yīng)用：
金屬片、硅片——硅片、箔片、各種金屬片等的厚度測(cè)定。
瓦楞紙板——瓦楞紙板的厚度測(cè)定。
紡織材料——各類紡織材料如編織織物、針織物、涂層織物等的厚度測(cè)定。
非織造布——各類非織造布如尿不濕、衛(wèi)生巾等的厚度測(cè)定。
其它材料——固體電絕緣材料、膠黏帶、土工合成材料、橡膠等的厚度測(cè)定。
